【出 处】：《 计算机工程与科学 》 CSCD 2012年第34卷第10期 161-165页,共5页

【作 者】： 张玲 [1,2] ; 邝继顺 [2] ; 林静 [1]

【摘 要】 数字微流控芯片常用于安全关键领域，其可靠性成为设计和测试的重要准则。为保证数字微流控芯片的系统可靠性，需要对其进行全面的测试，而为了实现重配置，必须对芯片阵列进行准确的故障诊断。本文提出了一种多故障的诊断方法，首先对芯片阵列进行行列并行测试，识别出存在故障的行和列，再利用改进二进搜索对这些故障行列进行故障定位。改进二进搜索可以利用多个有效的无故障路径进行测试，为了有效地为二进搜索寻找有效的搜索路径，给出了相应的贪婪算法。诊断故障覆盖率用来衡量多故障诊断方法的有效性。实验结果表明，相对传统的二进搜索方法，本方法可以更有效地对多故障进行定位。