覆盖率驱动的芯片功能验证设计与实现
【出 处】:《
计算机工程与科学
》
CSCD
2013年第35卷第1期 36-40页,共5页
【作 者】:
罗莉
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何鸿君
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窦强
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徐炜遐
【摘 要】
随着芯片集成度的发展,芯片性能越来越高,而上市时间越来越短,芯片验证在芯片设计中非常关键并贯穿于整个设计过程,验证的效率和质量直接决定着芯片的成败。提出了基于覆盖率驱动的芯片功能验证方法,定义了基于功能点覆盖率驱动的验证流程,利用PSL语言描述断言检查很有效,通过模拟工具检查断言是否成功,从而判断设计是否满足系统的功能要求。在网络接口芯片实际应用中,有效地降低了验证工作的复杂度,同时提高了验证的速度和质量。利用功能覆盖率数据判断测试激励的正确性和完整性,同时用覆盖率数据定量评价验证进程,提高了整个设计的效率。
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